Suche

Suchergebnisse

9954 Ergebnisse:
  • 5621. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2003 A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Microneedle Arrays Fabricated Using Suspended Etch Mask Technology Combined with Fluidic Through Wafer Vias, Proc. MEMS’03, Kyoto, (2003), 682-685. A.Trautmann, R.Haug, P.Ruther, O.Paul, Robustness of Silicon Microneedle Arrays Penetrating Bulk Material, Proc. Eurosensors XVII, (2003), 414-417.
  • 5622. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2004 S.Kamiya, J.Kuypers, A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Annealing Temperature Dependent Strength of Polysilicon Measured Using a Novel Tensile Test Structure, Proc. MEMS’04, Maastricht, (2004), 185-188. M.Schuster, N.Klein, P.Ruther, A.Trautmann, O.Paul, P.Kuzel, F.Kadlec, An interconnected 2D-TM EBG structure for millimetre and sub-millim
  • 5623. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2005 M.Schuster, N.Klein, P.Ruther, A.Trautmann, O.Paul, P.Kuzel, F.Kadlec, An interconnected 2D-TM EBG structure for millimetre and sub-millimetre waves, IEEE Journal on Selected Areas in Communication, Vol.23, No.7, (2005), 1378-1384. P.Ruther, J.Bartholomeyczik, A.Buhmann, A. Trautmann, K.Steffen, O.Paul,  Microelectromechanica
  • 5624. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2006 A.Trautmann, R.Denfeld, F.Heuck, P.Ruther, O.Paul, Novel Silicon Microneedle Stamps for Allergy Skin Prick Testing, Proc. MEMS’06, Istanbul, (2006), 434-437.
  • 5625. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2007 S.Kamiya, J.Kuypers, A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Process Temperature Dependent Mechanical Properties of Polysilicon Measured Using a Novel Tensile Test Structure, IEEE Journal of Microelectromechanical Systems 16 Issue 2, (2007), 202 – 212. B. Levey, P. Gieschke, M. Dölle, S. Spinner, A. Trautmann, P. Ruther, O. Paul, CMOS-Integrat
  • 5626. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2010 A. Schneider, H. Rank, A.Trautmann, Eutectic wafer bonding for 3-D integration, IEEE Electronic System-Integration Technology Conference, (2010), 1-6.
  • 5627. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2013 C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Characterization of Diverse Gate Oxides on 4H-SiC 3D Trench-MOS Structures, Materials Science Forum. 740–742 (2013) 691–694. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.691.
  • 5628. Veröffentlichungen/Patente
    Datum: 18.05.2021
    2011 L. Bohne, A. Trautmann, T. Pirk, W. Jaegermann, Strukturierung von Siliziumsubstraten für integrierte 3D-Dünnschichtbatterien, MikroSystemTechnik - KONGRESS (2011).  
  • 5629. Veröffentlichungen/Patente - Publikationen
    Datum: 18.05.2021
    Publikationen 2014 C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Influence of Diverse Post-Trench Processes on the Electrical Performance of 4H-SiC MOS Structures, Materials Science Forum. 778–780 (2014) 595–598. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.778-780.595. C.T. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A.J. Bauer, L. Frey, In
  • 5630. Besonderheiten - Anwendungsnah forschen bis zur Promotion
    Datum: 18.05.2021
    Anwendungsnah forschen bis zur Promotion Eine weitere Besonderheit ist die starke Verzahnung von Lehre und Forschung. In unserem Forschungsschwerpunkt Integrierte Miniaturisierte Systeme (IMS) laufen aktuell zahlreiche Forschungsprojekte. Bei uns sind diese Projekte häufig interdisziplinär und finden in Kooperation mit Unternehmen und anderen Fors
Die Suchabfrage hat 142 ms in Anspruch genommen.