2004
S.Kamiya, J.Kuypers, A.Trautmann, P.Ruther, O.Paul, Annealing Temperature Dependent Strength of Polysilicon Measured Using a Novel Tensile Test Structure, Proc. MEMS’04, Maastricht, (2004), 185-188. M.Schuster, N.Klein, P.Ruther, A.Trautmann, O.Paul, P.Kuzel, F.Kadlec, An interconnected 2D-TM EBG structure for millimetre and sub-millim
Patente/Patentanmeldungen
P1: MICROMECHANICAL METHOD AND CORRESPONDING ASSEMBLY FOR BONDING SEMICONDUCTOR SUBSTRATES AND CORRESPONDINGLY BONDED SEMICONDUCTOR CHIP P2: CONTACT ARRANGEMENT FOR ESTABLISHING A SPACED, ELECTRICALLY CONDUCTING CONNECTION BETWEEN MICROSTRUCTURED COMPONENTS P3: COMPOSITE OF AT LEAST TWO SEMICONDUCTOR SUBSTRATES
2013
C. Banzhaf, M. Grieb, A. Trautmann, A. Bauer, L. Frey, Characterization of Diverse Gate Oxides on 4H-SiC 3D Trench-MOS Structures, Materials Science Forum. 740–742 (2013) 691–694. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.691.
2011
L. Bohne, A. Trautmann, T. Pirk, W. Jaegermann, Strukturierung von Siliziumsubstraten für
QM-Tagebuch Das QM-Tagebuch informiert über die Aktivitäten der Stabsstelle in den jeweiligen Jahren.
QM-Tagebuch 2023 QM-Tagebuch 2022 QM-Tagebuch 2021 QM-Tagebuch 2020 QM-Tagebuch 2019 QM-Tagebuch 2018 QM-Tagebuch 2017 QM-Tagebuch 2016
Qualitätsberichte Der Qualitätsbericht wird abschließend in einem internen Verfahren
Zu den wichtigsten Veröffentlichungen zählen die Qualitätsberichte für die einzelnen Studiengänge sowie die Prüfberichte. In den jährlichen QM-Tagebüchern informieren wir über unsere Arbeit in dem jeweiligen Jahr, z.B. den abgeschlossenen und laufenden Akkreditierungsverfahren.
Veröffentlichungen des QM
Zu den wichtigsten Veröffentlichungen zählen die Qualitätsberichte für die einzelnen Studiengänge sowie die Prüfberichte. In den jährlichen QM-Tagebüchern informieren wir über unsere Arbeit in dem jeweiligen Jahr, z.B. den abgeschlossenen und laufenden Akkreditierungsverfahren.
