Der im Jahr 1876 von John Kerr entdeckte und nach ihm benannte magnetooptische Kerr-Effekt, beschreibt die Eigenschaftsänderung von polarisiertem Licht bei Reflexion an einer magnetischen Oberfläche. Hierbei handelt es sich zum einen um die Drehung der Polarisationsebene und zum anderen um die Änderung der Intensität des polarisierten Lichts. Die
Einsatz der Kerr-Mikroskopie zur Charakterisierung der Schädigungsentwicklung bei Stählen
Bei dem innerhalb des Projektes verwendeten Kerr-Mikroskops handelt es sich um ein Zwei-in-Eins-System. Somit ist in der Abb. 1 sowohl die Nahfeldmikroskopie mit den entsprechenden, nicht magnetischen Objektiven Epiplan Neofluar (20x0.5 Pol; 50x0.8 Pol; 100x1
Einsatz zerstörungsfreier Prüfverfahren in einer neuen Ein-Proben Prüfstrategie zur Abschätzung von Ermüdungsdaten
Ziel des vorliegenden Forschungsantrages ist es die Potentiale zerstörungsfreier Prüfverfahren, der Digitalisierung der Messtechnik und der Signalverarbeitung zu nutzen und mit einer neuartigen Ein-Proben Prüfstrategie zu kombinieren,
Entgegen der konventionellen Vorgehensweise sollen die Proben hierfür nicht mit Elektro- oder Permanentmagneten, sondern mittels eines angelegten konstanten/wechselnden Stroms bzw. Spannung magnetisiert werden, um ein probeneigenes mikrostrukturabhängiges Magnetfeld aufzubauen. Die hierbei gewonnenen Messsignale werden hinsichtlich ihrer Verläufe
Einsatz zerstörungsfreier Prüfverfahren in einer neuen Ein-Proben Prüfstrategie zur Abschätzung von Ermüdungsdaten
Ziel des vorliegenden Forschungsantrages ist es die Potentiale zerstörungsfreier Prüfverfahren, der Digitalisierung der Messtechnik und der Signalverarbeitung zu nutzen und mit einer neuartigen Ein-Proben Prüfstrategie zu kombinieren,
Entgegen der konventionellen Vorgehensweise sollen die Proben hierfür nicht mit Elektro- oder Permanentmagneten, sondern mittels eines angelegten konstanten/wechselnden Stroms bzw. Spannung magnetisiert werden, um ein probeneigenes mikrostrukturabhängiges Magnetfeld aufzubauen. Die hierbei gewonnenen Messsignale werden hinsichtlich ihrer Verläufe
