Einsatz der Kerr-Mikroskopie zur Charakterisierung der Schädigungsentwicklung bei Stählen

Bei dem innerhalb des Projektes verwendeten Kerr-Mikroskops handelt es sich um ein Zwei-in-Eins-System. Somit ist in der Abb. 1 sowohl die Nahfeldmikroskopie mit den entsprechenden, nicht magnetischen Objektiven Epiplan Neofluar (20x0.5 Pol; 50x0.8 Pol; 100x1.3 Pol), als auch die Anordnung des Fernfeldes (Carl Zeiss Optics) zu erkennen. Während der Versuchsdurchführung gewährleistet eine mittig angeordnete piezogesteuerte Probenaufnahme die Positionierung der ferromagnetischen Probe. Die Magnetisierung erfolgt durch die Quadrupol-Magnete, welche von zwei bipolaren Stromquellen (CME-KEPCO) betrieben werden und abhängig von der Probengeometrie und verwendeten Polschuhen magnetische Felder von 180 mT (25 mm-Probe) bis 700 mT (5 mm-Probe) erzeugen können. 

Der im Jahr 1876 von John Kerr entdeckte und nach ihm benannte magnetooptische Kerr-Effekt, beschreibt die Eigenschaftsänderung von polarisiertem Licht bei Reflexion an einer magnetischen Oberfläche. Hierbei handelt es sich zum einen um die Drehung der Polarisationsebene und zum anderen um die Änderung der Intensität des polarisierten Lichts. Dies wird in der nachfolgenden Abb. 2 mithilfe der eintreffenden und der reflektierten Polarisationsebene dargestellt, welche durch Interaktion mit dem Magnetisierungszustandes auf der Probenoberfläche die Kerr-Rotation sichtbar macht (longitudinaler Kerr-Effekt). 

 

HSKL

Wissenschaftlicher Mitarbeiter

HSKL

Studiengangsleitung: "Automatisierungstechnik, Bachelor" "Industrial Engineering, Bachelor" "Mechatronik berufsbegleitend, Bachelor" "Prozessingenieurwesen, Bachelor", Fachbereichsrat AING